渦流測厚儀使用時的注意事項
1. 覆蓋層厚度
渦流測儀器對于覆蓋層過薄產(chǎn)品的測量的不確度會比例會大幅增加，因為渦流測厚儀一般情況下的測量誤差是0.5μm，對于測量25μm以下的涂層厚儀它的準確率會非常低。
2.基體的厚度
由于渦流測厚儀工作原理的因素，金屬基體的厚度應該大于0.3mm。
3.邊緣效應
太靠近邊緣的測量也是不具有代表性的，如果實在要測量過窄的產(chǎn)品應該在無涂層的材料上校正后再測量來提高測量的準確度。
4.曲率
試樣曲率的變化會影響測量值。試樣曲率越小，對測量值的影響就越大。對于本儀器，當測量直徑小于50 mm的試樣時，應在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。
5.表面粗糙
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量值有影響。在不同的位置上進行多次測量后取平均值可以減小這一影響。如果基體金屬表面粗糙，還應在涂覆前的相應金屬材料上的多個位置校正儀器零點。
6. 探頭與試樣表面的緊密接觸
測厚儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸，試樣表面的灰塵和污物對測量值有影響。因此，測量時應確保探頭前端和試樣表面的清潔。
當對2片以上已知精確厚度值的校正箔片進行疊加測量時，測得的數(shù)值要大于校正箔片厚度值之和。箔片越厚、越硬，這一偏差就越大。原因是箔片的疊加影響了探頭與箔片及箔片之間的緊密接觸。
7. 探頭壓力
測量時，施加于探頭的壓力對測量值有影響。本儀器在探頭內(nèi)有一恒壓彈簧，可保證每次測量時探頭施加于度樣的壓力不變。
8. 探頭的垂直度
溫度的變化會影響探頭參數(shù)。因此，應在與使用環(huán)境大致相同的溫度下校正儀器。本儀器進行了良好的溫度補償，溫度變化對測量值的影響很小。